公司简介

华测蔚思博检测技术有限公司（展位号：5A26）为第三方半导体检测服务实验室，2004年创于新竹科学园区，2017年于上海及合肥建构完整检测平台服务，积累近20年集成电路检测经验，通过CNAS、ISO 9001、ISO 17025、ISO 27001、ANSI/ESD S20.20等多项资质认证，为半导体产业提供超高功耗（AI/GPU/CPU)、驱动芯片、第三代半导体、汽车电子相关可靠性验证、Burn-in量产服务；先进封装DPA分析技术与失效分析、ESD静电验证等服务。

蔚思博以专业团队及尖端设备，为客户提供完整的芯片工程验证与质量检测解决方案，客户涵盖国內前二十大芯片设计公司、知名晶圆厂、封测厂，成为半导体产业链中重要的合作伙伴。

推荐产品

Driver IC专用老化试验一站式服务

显示器驱动IC (LCD Driver IC)为驱动显示器面板的关键零组件以电气讯号形态，将影像与数据等信号传送至显示器面板，因应LCD Driver IC特殊封装方式TCF(Tape Carrier Package) / COF(Chipon Film) / COG(Chip on Glass)在可靠性试验上多采用COB(Chip on Board)封装执行，蔚思博检测在合肥建置Bonding及快封技术, 并整合RA老化试验平台, 提供LCD Driver IC客户一站式的老化试验服务。结合专用精密烘箱及高端MIPI显示讯号架构，同时搭配专业测试硬件设计团队搭建出国内最完整的显示屏驱动芯片老化试验平台架构，包含芯片高温寿命试验(HTOL)、芯片温湿度偏压试验(THB)，以提供高效、专业的可靠度试验服务。

SWAP压着制程服务

满足驱动芯片客户产品开发及异常分析等需求，提供高效、专业、垂直整合的一站式驱动芯片分析服务。包含COG / FPC / COF Bonding、IC / Panel / FPC Remove 、IC / Panel / FPC Recycle & Swap等完整服务。

AEC-Q车电与功率器件可靠性验证

全方位汽车电子及功率器件（IGBT/MOSFET）一站式整合验证服务。整合FIB、故障分析、ESD静电测试、硬件设计服务、可靠度试验等，形成一个完整的服务网络，协助客户快速进入车用电子市场。

可靠性试验服务

完整的半导体可靠性试验一站式服务，包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、可靠性试验、寿命预估等，协助客户通过JEDEC、MIL-STD、AEC-Q等国际试验标准。

失效分析服务

提供EFA与PFA之设备与工程技术支持服务,针对IC组件的量产、测试、可靠度验证、客退等的失效品,提供晶圆切割、芯片打线样品Re-ball、Decap、Delayer、Cross-section、X-RAY、EMMI、电性IV侦测等服务。

静电防护测试

提供业界先进ESD/LU测试设备协助客户进行各类封装的静电防护测试（HBM、MM、CDM）。由资深工程团队进行实验操作，效率的提供客户专业的检测报告。