DIC 2022平行论坛丨武汉精测:Mini/Micro LED检测技术的推进
2022-10-09 13:38:51
01
演讲嘉宾

02
演讲议题及概要
演讲议题:
阶段一:缺陷检出,缺陷的检测精度与复杂程度提高;
阶段二:颜色管理,新增加LED屏体的亮色度量测;
阶段三:良率解决方案, 透过系统集成, 有效的整合新型仪器与应用軟算,为客户提供高效的检测设备。
03
往届回顾


04
报名方式
1、扫描上方二维码,点击“会议报名”,注册个人信息完成后在会议列表中勾选“2022中国国际显示材料及设备创新发展高峰论坛”,购买此会议参会券,激活后即可使用;
2、针对本场会议,每人可购买多张参会券,但仅限激活一张。未激活的参会券可转赠他人,获赠人需注册成功后才能激活使用。
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