公司简介

SEMILAB（展位号：F109）成立于1989年，是一家全球领先的检测设备供应商，拥有先进的电学、光学测试技术，产品被广泛应用于光伏、半导体、平板、LED和科学研究等领域。公司总部位于匈牙利布达佩斯，在美国、中国设有研发与生产中心，在欧洲和亚洲主要国家和地区都设有分支机构。

自2004年以来，semilab相继收购了一系列公司和光学、电学测试技术，到目前为止已经拥有超过150项专利技术，成长为泛半导体行业领先的测试设备供应商，给客户的产品监控和质量控制提供完整的解决方案。

针对快速发展的微显示技术，Semilab推出了基于半导体工业的晶圆测试平台，可以应用于硅基OLED、Micro LED等显示技术，满足不同尺寸的晶圆及玻璃圆片的在线工艺测试。

两种产品都可以集成Semilab不同的检测技术，包括电学特性、光学特性和表面形貌分析，给用户提供高效的定制化测试方案。

① 业界领先的光学、电学测试技术，包括薄膜膜厚及光学性能测试、半导体薄膜的电学性能表征、薄膜电学/光学缺陷测试和微观结构表面形貌测试等等。

·汞探针CV测试仪：

MCV测试仪采用气动控制，通过无损伤和顶部汞接触的探头设计，消除了对贵金属或多晶硅沉积工艺的需求。设备具有极其稳定的接触面积，仅使用少量汞就可以进行高重复性的C-V和I-V测量，广泛用于工艺开发和生产过程监控，是半导体/外延层和介电层表征的卓越技术。

·光谱型椭偏仪：

- 非破坏性光学技术，基于测量在非垂直入射时，光在样品表面反射前后偏振状态的变化，来获取样品的厚度、折射率和消光系数等信息。 

- 即使对于低于5nm的薄膜厚度，也具有高度的灵敏度的技术。

·拉曼光谱测试仪：

拉曼光谱是一种能够实现实时监测和表征的方法。该方法基于拉曼效应，该效应描述了固体材料晶格振动（声子）所涉及到的弹性散射光。从散射光的能量偏移，强度和偏振状态中，可以获得有关固体本身性质的丰富信息。

·原子力显微镜：

- Semilab在扫描探针显微镜应用领域和制造领域拥有丰富的经验，可帮助用户在最短的时间内获得最佳和最可靠的结果。

- Semilab AFM设备的紧凑设计保证了出色的稳定性和扫描速率。独特的即插即用悬臂更换确保了仪器的快速和安全操作。

·纳米压痕测试仪：

·微波光电导衰退测试仪：

·涡流法电阻测试仪：